被测件长度与屏蔽性能测试之间的关系
被测器件的有效耦合长度和电磁波波长之间的关系对屏蔽性能测试结果影响很大。在有效耦合长度相对电磁波波长较短的频率范围内，所测得的屏蔽性能随有效耦合长度的递增而减弱。因此，在测试时相关长度的设定是非常必要的，对电缆的测试结果就是在整段电缆上的测试结果与1 m 的比值，其单位用[mΩ/m]表示。
对于固定器件如接插件或射频连接器，其屏蔽性能与长度无关，测试结果即为器件本身的性能。但对其进行屏蔽性能测试时，应考虑到与其连接的电缆和接触电阻对测试结果产生的影响。
在有效耦合长度相对电磁波波长较长的范围内，即在电波传播频段，屏蔽性能通过最大包络曲线形式的屏蔽衰减来描述。因此只有在高于截止频率的高频段，才能定义屏蔽衰减的概念。
我们将低频与高频渐近线交叉点的频率值定义为截止频率fc，通常高频接插件的轴向长度在10 mm 至50 mm 之间，根据上面截止频率计算公式可以得出其截止频率为3GHz 或更高。对高于该频率的信号来说，这些器件是电气长度长器件。因为只有在高于截止频率时才能定义屏蔽衰减的概念，所以只有在大于3 GHz 时才能测试高频接插件的屏蔽衰减。但是因为屏蔽衰减指标比转移阻抗更便于直接描述和计算电磁波的散射损失和辐射，高频接插件及组合电缆的用户还是希望了解该类器件在MHz 频段上的屏蔽衰减指标。对这种情况可以采用接扩展电缆的方法来增加被测件的长度以降低截止频率。
